所属組織 |
先端科学高等研究院 |
職名 |
特任教員(助教) |
論文 【 表示 / 非表示 】
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Laser-assisted atom probe tomography of 18O-enriched oxide thin film for quantitative analysis of oxygen
T. Kinno, M. Tomita, T. Ohkubo, S. Takeno, K. Hono
Applied Surface Science 290 194 - 198 2013年11月 [査読有り]
担当区分:筆頭著者, 責任著者 記述言語:英語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 単著
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Broadening the applications of the atom probe technique by ultraviolet femtosecond laser
K. Hono, T. Ohkubo, Y. M. Chen, M. Kodzuka, K. Oh-ishi, H. Sepehri-Amin, F. Li, T. Kinno, S. Tomiya … 全著者表示
K. Hono, T. Ohkubo, Y. M. Chen, M. Kodzuka, K. Oh-ishi, H. Sepehri-Amin, F. Li, T. Kinno, S. Tomiya, Y. Kanitani 閉じる
Ultramicroscopy 111 ( 6 ) 576 - 583 2010年12月 [査読有り]
記述言語:英語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 単著
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Ballistic-electron-emission spectroscopy on an Fe/Au/Fe multilayer
T. Kinno, K. Tanaka, K. Mizushima
Physical Review B 56 ( 8 ) R4391 - R4393 1997年8月 [査読有り]
担当区分:筆頭著者, 責任著者 記述言語:英語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 単著
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Quantitativeness in laser-assisted atom probe analysis of boron and carbon codoped in silicon
Teruyuki Kinno, Tomokazu Sasaki, Mitsuhiro Tomita, Tadakatsu Ohkubo
Japanese Journal of Applied Physics 56 116601 2017年10月 [査読有り]
担当区分:筆頭著者, 責任著者 記述言語:英語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 単著
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Laser-assisted atom probe tomography of 15N-enriched nitride thin films for analysis of nitrogen distribution in silicon-based structure
Teruyuki Kinno, Katsuyuki Kitamoto, Shiro Takeno, Mitsuhiro Tomita
Applied Surface Science 349 89 - 92 2015年5月 [査読有り]
担当区分:筆頭著者, 責任著者 記述言語:英語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 単著