|
所属組織 |
総合学術高等研究院 |
|
職名 |
助教 |
学内所属歴 【 表示 / 非表示 】
-
2024年6月-現在
専任 横浜国立大学 総合学術高等研究院 助教
-
2023年7月-2024年5月
専任 横浜国立大学 大学院工学研究院 システムの創生部門 助教
論文 【 表示 / 非表示 】
-
SiCN膜の膜質がハイブリッドボンディングに及ぼす影響
中田涼平, 石谷伸治, 持田篤範, 櫻井大輔, 佐野麻理恵, 井上史大
第40回エレクトロニクス実装学会春季講演大会論文集 2026年3月
記述言語:日本語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 単著
-
Statistical Evaluation of Bond Strength Variation in Hybrid Bonding Interfaces
Daiki Kobayashi, Shunsuke Teranishi, Yuki Yoshihara, Marie Sano, Fumihiro Inoue
2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) 2026年2月 [査読有り]
記述言語:英語 掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス) 共著
-
ハイブリッド接合におけるウエハ接合強度面内均一性評価法の検討
小林 大季, 布施 淳也, 近藤 悠介, 吉原 佑樹, 佐野 麻理恵, 井上 史大
スマートプロセス学会誌 15 ( 1 ) 31 - 35 2026年1月
記述言語:日本語 掲載種別:研究論文(学術雑誌) 出版者・発行元:一般社団法人 スマートプロセス学会 (旧高温学会) 共著
-
Void-Free, Low-temperature Direct Bonding of Si–Si for μLHP Integration in 3D ICs
Dianping Jiang, Marie Sano, Fumihiro Inoue, Masaaki Hashimoto, Hosei Nagano, Munehiro Tada
2025 International Conference on Solid State Devices and Materials 2025年9月 [査読有り]
記述言語:英語 掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス) 単著
-
Within-Wafer and Within-Die Uniformity of Bond Strength for Hybrid Bonding
Daiki Kobayashi, Junya Fuse, Yusuke Kondo, Yuki Yoshihara, Marie Sano, Fumihiro Inoue
2025 International Conference on Electronics Packaging and iMAPS All Asia Conference (ICEP-IAAC) 2025年5月 [査読有り]
記述言語:英語 掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス) 単著
研究発表 【 表示 / 非表示 】
-
佐野 麻理恵, 岩田 知也, 布施 淳也, 吉原 佑樹, 根本 俊介, 井上 史大
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 2023年9月 一般社団法人 エレクトロニクス実装学会
開催年月日: 2023年
記述言語:日本語 会議種別:口頭発表(一般)